Schubert, M. (2005). Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures: Phonons, plasmons, and polaritons. Springer.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Schubert, Mathias. Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons. Berlin, Heidelberg: Springer, 2005.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Schubert, Mathias. Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons. Springer, 2005.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.