Schubert, M. (2005). Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures: Phonons, plasmons, and polaritons. Springer.
Citace podle Chicago (17th ed.)Schubert, Mathias. Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons. Berlin, Heidelberg: Springer, 2005.
Citace podle MLA (8th ed.)Schubert, Mathias. Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons. Springer, 2005.
Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..