Schubert, M. (2005). Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures: Phonons, plasmons, and polaritons. Springer.
Style de citation Chicago (17e éd.)Schubert, Mathias. Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons. Berlin, Heidelberg: Springer, 2005.
Style de citation MLA (8e éd.)Schubert, Mathias. Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons. Springer, 2005.
Attention : ces citations peuvent ne pas être correctes à 100%.