Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures phonons, plasmons, and polaritons /
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Соавтор: | |
| Формат: | eКнига |
| Язык: | English |
| Опубликовано: |
Berlin, Heidelberg
Springer
2005.
|
| Серии: | Springer Tracts in Modern Physics,
209 |
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | Click here to view the full text content |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
| Объем: | 1 online resource digital. |
|---|---|
| ISBN: | 9783540232490 |
| ISSN: | 0081-3869 ; |