Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures phonons, plasmons, and polaritons /
Gespeichert in:
1. Verfasser: | Schubert, Mathias (VerfasserIn) |
---|---|
Körperschaft: | SpringerLink (Online service) |
Format: | E-Book |
Sprache: | English |
Veröffentlicht: |
Berlin, Heidelberg
Springer
2005.
|
Schriftenreihe: | Springer Tracts in Modern Physics,
209 |
Schlagworte: | |
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