Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures phonons, plasmons, and polaritons /

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Dettagli Bibliografici
Autore principale:	Schubert, Mathias (Autore)
Ente Autore:	SpringerLink (Online service)
Natura:	eBook
Lingua:	English
Pubblicazione:	Berlin, Heidelberg Springer 2005.
Serie:	Springer Tracts in Modern Physics, 209
Soggetti:	Engineering Optical materials Physical optics Surfaces (Physics) Chemistry
Accesso online:	Click here to view the full text content
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