Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures phonons, plasmons, and polaritons /
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| Autor principal: | |
|---|---|
| Autor Corporativo: | |
| Formato: | livro eletrônico |
| Idioma: | English |
| Publicado em: |
Berlin, Heidelberg
Springer
2005.
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| coleção: | Springer Tracts in Modern Physics,
209 |
| Assuntos: | |
| Acesso em linha: | Click here to view the full text content |
| Tags: |
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