Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures phonons, plasmons, and polaritons /
Guardado en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Autor Corporativo: | |
| Formato: | eBook |
| Lenguaje: | English |
| Publicado: |
Berlin, Heidelberg
Springer
2005.
|
| Colección: | Springer Tracts in Modern Physics,
209 |
| Materias: | |
| Acceso en línea: | Click here to view the full text content |
| Etiquetas: |
Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|
Sea el primero en dejar un comentario!