Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures phonons, plasmons, and polaritons /
Enregistré dans:
| Auteur principal: | |
|---|---|
| Collectivité auteur: | |
| Format: | eBook |
| Langue: | English |
| Publié: |
Berlin, Heidelberg
Springer
2005.
|
| Collection: | Springer Tracts in Modern Physics,
209 |
| Sujets: | |
| Accès en ligne: | Click here to view the full text content |
| Tags: |
Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|
Soyez le premier à ajouter un commentaire!