Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures phonons, plasmons, and polaritons /
שמור ב:
| מחבר ראשי: | |
|---|---|
| מחבר תאגידי: | |
| פורמט: | ספר אלקטרוני |
| שפה: | English |
| יצא לאור: |
Berlin, Heidelberg
Springer
2005.
|
| סדרה: | Springer Tracts in Modern Physics,
209 |
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | Click here to view the full text content |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
היה/י הראשונ/ה לכתוב הערה!