توثيق جمعية علم النفس الأمريكية APA (الطبعة السابعة)

Nicolici, N., & Al-Hashimi, B. M. (2003). Power-constrained testing of VLSI circuits. Kluwer.

توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)

Nicolici, Nicola, و Bashir M. Al-Hashimi. Power-constrained Testing of VLSI Circuits. Boston: Kluwer, 2003.

توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)

Nicolici, Nicola, و Bashir M. Al-Hashimi. Power-constrained Testing of VLSI Circuits. Kluwer, 2003.