Citace podle APA (7th ed.)

Nicolici, N., & Al-Hashimi, B. M. (2003). Power-constrained testing of VLSI circuits. Kluwer.

Citace podle Chicago (17th ed.)

Nicolici, Nicola, a Bashir M. Al-Hashimi. Power-constrained Testing of VLSI Circuits. Boston: Kluwer, 2003.

Citace podle MLA (8th ed.)

Nicolici, Nicola, a Bashir M. Al-Hashimi. Power-constrained Testing of VLSI Circuits. Kluwer, 2003.

Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..