APA (7th ed.) մեջբերում

Nicolici, N., & Al-Hashimi, B. M. (2003). Power-constrained testing of VLSI circuits. Kluwer.

Չիկագոյի ոճի (17րդ խմբ.) մեջբերում

Nicolici, Nicola, and Bashir M. Al-Hashimi. Power-constrained Testing of VLSI Circuits. Boston: Kluwer, 2003.

MLA (8րդ խմբ.) Մեջբերում

Nicolici, Nicola, and Bashir M. Al-Hashimi. Power-constrained Testing of VLSI Circuits. Kluwer, 2003.

Զգուշացում. այս մեջբերումները միշտ չէ, որ կարող են 100% ճշգրիտ լինել.