Nicolici, N., & Al-Hashimi, B. M. (2003). Power-constrained testing of VLSI circuits. Kluwer.
Цитирование в стиле Чикаго (17-е изд.)Nicolici, Nicola, и Bashir M. Al-Hashimi. Power-constrained Testing of VLSI Circuits. Boston: Kluwer, 2003.
Цитирование MLA (8-е изд.)Nicolici, Nicola, и Bashir M. Al-Hashimi. Power-constrained Testing of VLSI Circuits. Kluwer, 2003.
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.