Nicolici, N., & Al-Hashimi, B. M. (2003). Power-constrained testing of VLSI circuits. Kluwer.
Chicago-referens (17:e uppl.)Nicolici, Nicola, och Bashir M. Al-Hashimi. Power-constrained Testing of VLSI Circuits. Boston: Kluwer, 2003.
MLA-referens (8:e uppl.)Nicolici, Nicola, och Bashir M. Al-Hashimi. Power-constrained Testing of VLSI Circuits. Kluwer, 2003.
Varning: dessa hänvisningar är inte alltid fullständigt riktiga.