Nicolici, N., & Al-Hashimi, B. M. (2003). Power-constrained testing of VLSI circuits. Kluwer.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Nicolici, Nicola, và Bashir M. Al-Hashimi. Power-constrained Testing of VLSI Circuits. Boston: Kluwer, 2003.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 8)Nicolici, Nicola, và Bashir M. Al-Hashimi. Power-constrained Testing of VLSI Circuits. Kluwer, 2003.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.