Power-constrained testing of VLSI circuits /
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| Format: | Buch |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Boston
Kluwer
c2003
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| Schriftenreihe: | Frontiers in electronic testing ;
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| Beschreibung: | xi, 178 pages: illustrations; 25 cm. |
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| Bibliographie: | Includes bibliographical references (p. 163-173) |
| ISBN: | 140207235X |