Power-constrained testing of VLSI circuits /
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| Autor Principal: | |
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| Outros autores: | |
| Formato: | Libro |
| Idioma: | English |
| Publicado: |
Boston
Kluwer
c2003
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| Series: | Frontiers in electronic testing ;
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| Subjects: | |
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| Descrición Física: | xi, 178 pages: illustrations; 25 cm. |
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| Bibliografía: | Includes bibliographical references (p. 163-173) |
| ISBN: | 140207235X |