Power-constrained testing of VLSI circuits /
Spremljeno u:
| Glavni autor: | |
|---|---|
| Daljnji autori: | |
| Format: | Knjiga |
| Jezik: | English |
| Izdano: |
Boston
Kluwer
c2003
|
| Serija: | Frontiers in electronic testing ;
|
| Teme: | |
| Oznake: |
Dodaj oznaku
Bez oznaka, Budi prvi tko označuje ovaj zapis!
|
| Opis: | xi, 178 pages: illustrations; 25 cm. |
|---|---|
| Bibliografija: | Includes bibliographical references (p. 163-173) |
| ISBN: | 140207235X |