Power-constrained testing of VLSI circuits /

Power-constrained testing of VLSI circuits /

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ: Nicolici, Nicola (Հեղինակ)
Այլ հեղինակներ: Al-Hashimi, Bashir M.
Ձևաչափ: Գիրք
Լեզու:English
Հրապարակվել է: Boston Kluwer c2003
Շարք:Frontiers in electronic testing ;
Խորագրեր:
Integrated circuits, very large scale integration > Protection.
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing.
Semiconductors > Thermal properties.
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
Նկարագրություն
Ֆիզիկական նկարագրություն:xi, 178 pages: illustrations; 25 cm.
Մատենագիտություն:Includes bibliographical references (p. 163-173)
ISBN:140207235X

Նմանատիպ նյութեր