Power-constrained testing of VLSI circuits /
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Другие авторы: | |
| Формат: | |
| Язык: | English |
| Опубликовано: |
Boston
Kluwer
c2003
|
| Серии: | Frontiers in electronic testing ;
|
| Предметы: | |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
| Объем: | xi, 178 pages: illustrations; 25 cm. |
|---|---|
| Библиография: | Includes bibliographical references (p. 163-173) |
| ISBN: | 140207235X |