Power-constrained testing of VLSI circuits /

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書目詳細資料
主要作者: Nicolici, Nicola (Author)
其他作者: Al-Hashimi, Bashir M.
格式: 圖書
語言:English
出版: Boston Kluwer c2003
叢編:Frontiers in electronic testing ;
主題:
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實物特徵
實物描述:xi, 178 pages: illustrations; 25 cm.
參考書目:Includes bibliographical references (p. 163-173)
ISBN:140207235X