Power-constrained testing of VLSI circuits /
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| 主要作者: | |
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| 其他作者: | |
| 格式: | 圖書 |
| 語言: | English |
| 出版: |
Boston
Kluwer
c2003
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| 叢編: | Frontiers in electronic testing ;
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| 主題: | |
| 標簽: |
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| 實物描述: | xi, 178 pages: illustrations; 25 cm. |
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| 參考書目: | Includes bibliographical references (p. 163-173) |
| ISBN: | 140207235X |