Power-constrained testing of VLSI circuits /
Guardado en:
Autor principal: | |
---|---|
Otros Autores: | |
Formato: | Libro |
Lenguaje: | English |
Publicado: |
Boston
Kluwer
c2003
|
Colección: | Frontiers in electronic testing ;
|
Materias: | |
Etiquetas: |
Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|
Descripción Física: | xi, 178 pages: illustrations; 25 cm. |
---|---|
Bibliografía: | Includes bibliographical references (p. 163-173) |
ISBN: | 140207235X |