Power-constrained testing of VLSI circuits /
Αποθηκεύτηκε σε:
Κύριος συγγραφέας: | Nicolici, Nicola (Συγγραφέας) |
---|---|
Άλλοι συγγραφείς: | Al-Hashimi, Bashir M. |
Μορφή: | Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Boston
Kluwer
c2003
|
Σειρά: | Frontiers in electronic testing ;
|
Θέματα: | |
Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
Παρόμοια τεκμήρια
-
VLSI test principles and architectures : design for testability /
Έκδοση: (2006) -
Introduction to VLSI testing /
ανά: Feugate, Robert J.
Έκδοση: (1988) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
ανά: Hurst, Stanley L.
Έκδοση: (1998) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
ανά: Hurst, Stanley L. -
The design and analysis of VLSI circuits /
ανά: Glasser, Lance A.
Έκδοση: (1985)