Power-constrained testing of VLSI circuits /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Nicolici, Nicola (مؤلف) |
---|---|
مؤلفون آخرون: | Al-Hashimi, Bashir M. |
التنسيق: | كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
Boston
Kluwer
c2003
|
سلاسل: | Frontiers in electronic testing ;
|
الموضوعات: | |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
VLSI test principles and architectures : design for testability /
منشور في: (2006) -
Introduction to VLSI testing /
بواسطة: Feugate, Robert J.
منشور في: (1988) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
بواسطة: Hurst, Stanley L.
منشور في: (1998) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
بواسطة: Hurst, Stanley L. -
The design and analysis of VLSI circuits /
بواسطة: Glasser, Lance A.
منشور في: (1985)