Power-constrained testing of VLSI circuits /
Uloženo v:
Hlavní autor: | Nicolici, Nicola (Autor) |
---|---|
Další autoři: | Al-Hashimi, Bashir M. |
Médium: | Kniha |
Jazyk: | English |
Vydáno: |
Boston
Kluwer
c2003
|
Edice: | Frontiers in electronic testing ;
|
Témata: | |
Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky
-
VLSI test principles and architectures : design for testability /
Vydáno: (2006) -
Introduction to VLSI testing /
Autor: Feugate, Robert J.
Vydáno: (1988) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
Autor: Hurst, Stanley L.
Vydáno: (1998) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
Autor: Hurst, Stanley L. -
The design and analysis of VLSI circuits /
Autor: Glasser, Lance A.
Vydáno: (1985)