Power-constrained testing of VLSI circuits /
Wedi'i Gadw mewn:
Prif Awdur: | Nicolici, Nicola (Awdur) |
---|---|
Awduron Eraill: | Al-Hashimi, Bashir M. |
Fformat: | Llyfr |
Iaith: | English |
Cyhoeddwyd: |
Boston
Kluwer
c2003
|
Cyfres: | Frontiers in electronic testing ;
|
Pynciau: | |
Tagiau: |
Ychwanegu Tag
Dim Tagiau, Byddwch y cyntaf i dagio'r cofnod hwn!
|
Eitemau Tebyg
VLSI testing digital and mixed analogue/digital techniques
gan: Hurst, Stanley L.
Cyhoeddwyd: (1998)
gan: Hurst, Stanley L.
Cyhoeddwyd: (1998)
Eitemau Tebyg
-
VLSI test principles and architectures : design for testability /
Cyhoeddwyd: (2006) -
Introduction to VLSI testing /
gan: Feugate, Robert J.
Cyhoeddwyd: (1988) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
gan: Hurst, Stanley L.
Cyhoeddwyd: (1998) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
gan: Hurst, Stanley L. -
The design and analysis of VLSI circuits /
gan: Glasser, Lance A.
Cyhoeddwyd: (1985)