Power-constrained testing of VLSI circuits /
Saved in:
Hovedforfatter: | Nicolici, Nicola (Author) |
---|---|
Andre forfattere: | Al-Hashimi, Bashir M. |
Format: | Bog |
Sprog: | English |
Udgivet: |
Boston
Kluwer
c2003
|
Serier: | Frontiers in electronic testing ;
|
Fag: | |
Tags: |
Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!
|
Lignende værker
-
VLSI test principles and architectures : design for testability /
Udgivet: (2006) -
Introduction to VLSI testing /
af: Feugate, Robert J.
Udgivet: (1988) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
af: Hurst, Stanley L.
Udgivet: (1998) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
af: Hurst, Stanley L. -
The design and analysis of VLSI circuits /
af: Glasser, Lance A.
Udgivet: (1985)