Power-constrained testing of VLSI circuits /
Guardado en:
Autor principal: | Nicolici, Nicola (Autor) |
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Otros Autores: | Al-Hashimi, Bashir M. |
Formato: | Libro |
Lenguaje: | English |
Publicado: |
Boston
Kluwer
c2003
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Colección: | Frontiers in electronic testing ;
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Materias: | |
Etiquetas: |
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