Power-constrained testing of VLSI circuits /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Nicolici, Nicola (Autor)
Otros Autores: Al-Hashimi, Bashir M.
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: Boston Kluwer c2003
Colección:Frontiers in electronic testing ;
Materias:
Integrated circuits, very large scale integration > Protection.
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing.
Semiconductors > Thermal properties.
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