Power-constrained testing of VLSI circuits /
Gorde:
Egile nagusia: | Nicolici, Nicola (Egilea) |
---|---|
Beste egile batzuk: | Al-Hashimi, Bashir M. |
Formatua: | Liburua |
Hizkuntza: | English |
Argitaratua: |
Boston
Kluwer
c2003
|
Saila: | Frontiers in electronic testing ;
|
Gaiak: | |
Etiketak: |
Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!
|
Antzeko izenburuak
-
VLSI test principles and architectures : design for testability /
Argitaratua: (2006) -
Introduction to VLSI testing /
nork: Feugate, Robert J.
Argitaratua: (1988) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
nork: Hurst, Stanley L.
Argitaratua: (1998) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
nork: Hurst, Stanley L. -
The design and analysis of VLSI circuits /
nork: Glasser, Lance A.
Argitaratua: (1985)