Power-constrained testing of VLSI circuits /

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Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Nicolici, Nicola (Author)
Outros autores: Al-Hashimi, Bashir M.
Formato: Libro
Idioma:English
Publicado: Boston Kluwer c2003
Series:Frontiers in electronic testing ;
Subjects:
Integrated circuits, very large scale integration > Protection.
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing.
Semiconductors > Thermal properties.
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