Power-constrained testing of VLSI circuits /
שמור ב:
מחבר ראשי: | Nicolici, Nicola (Author) |
---|---|
מחברים אחרים: | Al-Hashimi, Bashir M. |
פורמט: | ספר |
שפה: | English |
יצא לאור: |
Boston
Kluwer
c2003
|
סדרה: | Frontiers in electronic testing ;
|
נושאים: | |
תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
פריטים דומים
-
VLSI test principles and architectures : design for testability /
יצא לאור: (2006) -
Introduction to VLSI testing /
מאת: Feugate, Robert J.
יצא לאור: (1988) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
מאת: Hurst, Stanley L.
יצא לאור: (1998) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
מאת: Hurst, Stanley L. -
The design and analysis of VLSI circuits /
מאת: Glasser, Lance A.
יצא לאור: (1985)