Power-constrained testing of VLSI circuits /
Պահպանված է:
Հիմնական հեղինակ: | Nicolici, Nicola (Հեղինակ) |
---|---|
Այլ հեղինակներ: | Al-Hashimi, Bashir M. |
Ձևաչափ: | Գիրք |
Լեզու: | English |
Հրապարակվել է: |
Boston
Kluwer
c2003
|
Շարք: | Frontiers in electronic testing ;
|
Խորագրեր: | |
Ցուցիչներ: |
Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
|
Նմանատիպ նյութեր
VLSI testing digital and mixed analogue/digital techniques
: Hurst, Stanley L.
Հրապարակվել է: (1998)
: Hurst, Stanley L.
Հրապարակվել է: (1998)
Նմանատիպ նյութեր
-
VLSI test principles and architectures : design for testability /
Հրապարակվել է: (2006) -
Introduction to VLSI testing /
: Feugate, Robert J.
Հրապարակվել է: (1988) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
: Hurst, Stanley L.
Հրապարակվել է: (1998) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
: Hurst, Stanley L. -
The design and analysis of VLSI circuits /
: Glasser, Lance A.
Հրապարակվել է: (1985)