Power-constrained testing of VLSI circuits /
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第一著者: | Nicolici, Nicola (著者) |
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その他の著者: | Al-Hashimi, Bashir M. |
フォーマット: | 図書 |
言語: | English |
出版事項: |
Boston
Kluwer
c2003
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シリーズ: | Frontiers in electronic testing ;
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主題: | |
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