Power-constrained testing of VLSI circuits /
Bewaard in:
Hoofdauteur: | Nicolici, Nicola (Auteur) |
---|---|
Andere auteurs: | Al-Hashimi, Bashir M. |
Formaat: | Boek |
Taal: | English |
Gepubliceerd in: |
Boston
Kluwer
c2003
|
Reeks: | Frontiers in electronic testing ;
|
Onderwerpen: | |
Tags: |
Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
|
Gelijkaardige items
-
VLSI test principles and architectures : design for testability /
Gepubliceerd in: (2006) -
Introduction to VLSI testing /
door: Feugate, Robert J.
Gepubliceerd in: (1988) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
door: Hurst, Stanley L.
Gepubliceerd in: (1998) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
door: Hurst, Stanley L. -
The design and analysis of VLSI circuits /
door: Glasser, Lance A.
Gepubliceerd in: (1985)