Power-constrained testing of VLSI circuits /
Kaydedildi:
Yazar: | Nicolici, Nicola (Yazar) |
---|---|
Diğer Yazarlar: | Al-Hashimi, Bashir M. |
Materyal Türü: | Kitap |
Dil: | English |
Baskı/Yayın Bilgisi: |
Boston
Kluwer
c2003
|
Seri Bilgileri: | Frontiers in electronic testing ;
|
Konular: | |
Etiketler: |
Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!
|
Benzer Materyaller
-
VLSI test principles and architectures : design for testability /
Baskı/Yayın Bilgisi: (2006) -
Introduction to VLSI testing /
Yazar:: Feugate, Robert J.
Baskı/Yayın Bilgisi: (1988) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
Yazar:: Hurst, Stanley L.
Baskı/Yayın Bilgisi: (1998) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
Yazar:: Hurst, Stanley L. -
The design and analysis of VLSI circuits /
Yazar:: Glasser, Lance A.
Baskı/Yayın Bilgisi: (1985)