Power-constrained testing of VLSI circuits /
Đã lưu trong:
Tác giả chính: | Nicolici, Nicola (Tác giả) |
---|---|
Tác giả khác: | Al-Hashimi, Bashir M. |
Định dạng: | Sách |
Ngôn ngữ: | English |
Được phát hành: |
Boston
Kluwer
c2003
|
Loạt: | Frontiers in electronic testing ;
|
Những chủ đề: | |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Những quyển sách tương tự
-
VLSI test principles and architectures : design for testability /
Được phát hành: (2006) -
Introduction to VLSI testing /
Bằng: Feugate, Robert J.
Được phát hành: (1988) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
Bằng: Hurst, Stanley L.
Được phát hành: (1998) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
Bằng: Hurst, Stanley L. -
The design and analysis of VLSI circuits /
Bằng: Glasser, Lance A.
Được phát hành: (1985)