Power-constrained testing of VLSI circuits /

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Nicolici, Nicola (Autor)
Další autoři: Al-Hashimi, Bashir M.
Médium: Kniha
Jazyk:English
Vydáno: Boston Kluwer c2003
Edice:Frontiers in electronic testing ;
Témata:
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!