Power-constrained testing of VLSI circuits /
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | |
| Médium: | Kniha |
| Jazyk: | English |
| Vydáno: |
Boston
Kluwer
c2003
|
| Edice: | Frontiers in electronic testing ;
|
| Témata: | |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!