Power-constrained testing of VLSI circuits /
Αποθηκεύτηκε σε:
Κύριος συγγραφέας: | |
---|---|
Άλλοι συγγραφείς: | |
Μορφή: | Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Boston
Kluwer
c2003
|
Σειρά: | Frontiers in electronic testing ;
|
Θέματα: | |
Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
καταχωρήστε σχόλιο πρώτοι!