Power-constrained testing of VLSI circuits /

Guardado en:

Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Nicolici, Nicola (Autor)
Otros Autores:	Al-Hashimi, Bashir M.
Formato:	Libro
Lenguaje:	English
Publicado:	Boston Kluwer c2003
Colección:	Frontiers in electronic testing ;
Materias:	Integrated circuits, very large scale integration > Protection. Integrated circuits > Very large scale integration > Testing. Semiconductors > Thermal properties.
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Sea el primero en dejar un comentario!

Ejemplares similares