Power-constrained testing of VLSI circuits /

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Detalles Bibliográficos
Autor Principal:	Nicolici, Nicola (Author)
Outros autores:	Al-Hashimi, Bashir M.
Formato:	Libro
Idioma:	English
Publicado:	Boston Kluwer c2003
Series:	Frontiers in electronic testing ;
Subjects:	Integrated circuits, very large scale integration > Protection. Integrated circuits > Very large scale integration > Testing. Semiconductors > Thermal properties.
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