Power-constrained testing of VLSI circuits /

Power-constrained testing of VLSI circuits /

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Nicolici, Nicola (Author)
מחברים אחרים: Al-Hashimi, Bashir M.
פורמט: ספר
שפה:English
יצא לאור: Boston Kluwer c2003
סדרה:Frontiers in electronic testing ;
נושאים:
Integrated circuits, very large scale integration > Protection.
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing.
Semiconductors > Thermal properties.
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
היה/י הראשונ/ה לכתוב הערה!
צריך להיות מחובר מראש

פריטים דומים