Power-constrained testing of VLSI circuits /
Kaydedildi:
Yazar: | |
---|---|
Diğer Yazarlar: | |
Materyal Türü: | Kitap |
Dil: | English |
Baskı/Yayın Bilgisi: |
Boston
Kluwer
c2003
|
Seri Bilgileri: | Frontiers in electronic testing ;
|
Konular: | |
Etiketler: |
Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!
|
İlk yorumlayan siz olun!