Power-constrained testing of VLSI circuits /

সংরক্ষণ করুন:
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক: Nicolici, Nicola (Author)
অন্যান্য লেখক: Al-Hashimi, Bashir M.
বিন্যাস: গ্রন্থ
ভাষা:English
প্রকাশিত: Boston Kluwer c2003
মালা:Frontiers in electronic testing ;
বিষয়গুলি:
ট্যাগগুলো: ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!

পদ্ধতিটি রক্ষণাবেক্ষণের অধীনে

বর্তমানে আমাদের গ্রন্থাগার ব্যবস্থাপনা পদ্ধতিটি রক্ষণাবেক্ষণের অধীনে।

হোল্ডিংস এবং উপাদানটির প্রাপ্যতা বর্তমানে অনুপলব্ধ। আপনার সবরকম অসুবিধার জন্য আমরা দুঃখিত এবং অন্যান্য সহায়তার জন্য আমাদের সাথে যোগাযোগ করুনঃ

david@pintaran.my