Power-constrained testing of VLSI circuits /
Guardado en:
| Autor principal: | |
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| Otros Autores: | |
| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | English |
| Publicado: |
Boston
Kluwer
c2003
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| Colección: | Frontiers in electronic testing ;
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| Materias: | |
| Etiquetas: |
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