Power-constrained testing of VLSI circuits /

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Auteur principal: Nicolici, Nicola (Auteur)
Autres auteurs: Al-Hashimi, Bashir M.
Format: Livre
Langue:English
Publié: Boston Kluwer c2003
Collection:Frontiers in electronic testing ;
Sujets:
Integrated circuits, very large scale integration > Protection.
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing.
Semiconductors > Thermal properties.
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