Power-constrained testing of VLSI circuits /

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ग्रंथसूची विवरण
मुख्य लेखक: Nicolici, Nicola (लेखक)
अन्य लेखक: Al-Hashimi, Bashir M.
स्वरूप: पुस्तक
भाषा:English
प्रकाशित: Boston Kluwer c2003
श्रृंखला:Frontiers in electronic testing ;
विषय:
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