Power-constrained testing of VLSI circuits /

Power-constrained testing of VLSI circuits /

Spremljeno u:
Bibliografski detalji
Glavni autor: Nicolici, Nicola (Autor)
Daljnji autori: Al-Hashimi, Bashir M.
Format: Knjiga
Jezik:English
Izdano: Boston Kluwer c2003
Serija:Frontiers in electronic testing ;
Teme:
Integrated circuits, very large scale integration > Protection.
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing.
Semiconductors > Thermal properties.
Oznake: Dodaj oznaku
Bez oznaka, Budi prvi tko označuje ovaj zapis!

Sustav se trenutačno održava

Naš sustav za upravljanje knjižnicom se trenutačno održava.

Informacije o dostupnosti primjeraka i djela trenutačno nisu dostupne. Ispričavamo se zbog prouzročenih neugodnosti. Slobodno nas kontaktiraj radi daljnje pomoći:

david@pintaran.my

Similar Items