Fabrication of silicon nanowires using scanning electron microscope based electron beam lithography method /
The goal of this research work is to form and produce very small nanowires using a Top-Down Nanofabrication Method which involved Scanning Electron Microscope (SEM) based Electron Beam Litography (EBL) method.
Збережено в:
Автор: | Mohammad Nuzaihan Bin Md Nor (Автор) |
---|---|
Співавтор: | Universiti Malaysia Perlis |
Формат: | Дисертація Програмне забезпечення eКнига |
Мова: | English |
Опубліковано: |
Kangar
Universiti Malaysia Perlis (UniMAP)
2007.
|
Предмети: | |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Схожі ресурси
-
Silicon nanowire sensor from electron beam litography : design, fabrication and characterization /
за авторством: Siti Fatimah Abd Rahman
Опубліковано: (2011) -
Silicon nanowire sensor from electron beam litography : design, fabrication and characterization /
за авторством: Siti Fatimah Abd Rahman
Опубліковано: (2011) -
Development of novel silicon nanowire biosensor for detection of DNA molecules at femtomolar concentration/
за авторством: Mohammad Nuzaihan Md Nor
Опубліковано: (2016) -
Nanowire transistors : physics of devices and materials in one dimension /
за авторством: Colinge, Jean-Pierre
Опубліковано: (2016) -
Superconductivity in nanowires : fabrication and quantum transport /
за авторством: Bezryadin, Alexey
Опубліковано: (2013)