Bushnell, M. L., & Agrawal, V. D. (2000). Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits. Springer.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)Bushnell, Michael L., i Vishwani D. Agrawal. Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-signal VLSI Circuits. Boston: Springer, 2000.
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 8)Bushnell, Michael L., i Vishwani D. Agrawal. Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-signal VLSI Circuits. Springer, 2000.
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..